透射电子显微镜(200KV TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
北京大学
FEI,Tecnai G2 20 TWIN
北京市
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检测范围

可进行TEM和STEM Tomography的成像分析。

仪器参数

点分辨率:0.27nm,线分辨率:0.144nm,加速电压:20-200KV连续可调。STEM分辨率:1.0nm;样品最大倾角:+/-70度,放大倍数:25×-700K×,STEM放大倍数:100×-5M×。

仪器特色&服务特色

每学期初定期为全院师生举行仪器培训。目前共有23个课题组,近700人次使用过该仪器。其中有两人具有独立操作仪器的能力。
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