椭偏谱仪(ELLIPSOMETRY)
北京大学
HORIBA Jobin Yvon,UVISEL FUV
北京市
我们目前尚未与北京大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

检测范围

入射角范围(40°-90°):光谱范围:190-830nm;样品尺寸:最大8寸分辨率:500nm处优于2nm;样品台Z向调节范围:0-4mm。椭偏谱仪是一种非常灵敏的、通过测量椭圆偏振光经过样品反射后以变化而推算出样品厚度,折射率及其它性质的科研设备,广泛用于传统薄膜研究。

仪器参数

入射角范围(40°-90°):光谱范围:190-830nm;样品尺寸:最大8寸分辨率:500nm处优于2nm;样品台Z向调节范围:0-4mm。

仪器特色&服务特色

平台承担的开放课题和各研究组自行承担的课题,每年培训10-20名博士和硕士研究生
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求