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扫描探针显微镜(VEECO DI SPM INNOVA)
北京大学
Veeco，Innova
北京市
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检测范围

测量模式：AFM，STM，MFM，EFM，力曲线/力谱测量，纳米刻蚀/加工功能，X、Y方向闭环回路控制，非线性

仪器参数

测量模式:AFM,STM,MFM,EFM,力曲线/力谱测量,纳米刻蚀/加工功能,X,Y方向闭环回路控制,非线性

仪器特色&服务特色

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