冷场发射扫描电镜(COLD FIELD EMISSION SCANNING MICROSCOPES)
北京大学
日立,S-4800
北京市
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检测范围

场发射扫描电子显微镜可以用于材料的形貌观测、材料加工监控、材料结构分析等。

仪器参数

1、加速电压15V,显示放大220K,工作距离4.0mm时分辨率1.0nm

2、加速电压1KV,工作距离1.5mm时分辨率2.0nm。
3、真空系统:电子枪<10↑-7Pa;第一级中间真空室<2×10↑-6Pa;第二中间真空室<10↑-5Pa,本仪器对系统真空度要求高,适合测试导电样品。

仪器特色&服务特色

1.狄拉克材料的光热电转换与新概念器件    纳米重大研究计划    2013CB932603  2013-2017 2.表界面纳米工程学    国家自然科学基金委创新群体    51121091  2012-2014 3.石墨烯基材料的应用研究    重大科学研究计划    2012CB933404  2012-2016 4.基于Dirac费米子系统的新型器件的物理原理研究与应用探索    973计划-量子调控研究    2011CB921904  2011-2015
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