扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy)
北京大学
精工仪器,SPI3800N,SPA-400
北京市
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检测范围

AFM可成原子像。可在大气、液体环境下具备进行Contant Mode或Tapping Mode成像等功能,最大扫描范围XY:100微米,Z:15微米,水平分辨率:0.1nm,纵向分辨率:0.01nm,STM成像具有原子级分辨率。可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究。

仪器参数

AFM可成原子像。可在大气、液体环境下具备进行Contant Mode或Tapping Mode成像等功能,最大扫描范围XY:100微米,Z:15微米,水平分辨率:0.1nm,纵向分辨率:0.01nm,STM成像具有原子级分辨率。

仪器特色&服务特色

承担校内大型仪器开放基金项目6项,培训能够独立操作的学生46人
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