聚焦离子束系统(FOCUSED ION BEAM (DUAL BEAM))
北京大学
FEI,STARTA DB235
北京市
我们目前尚未与北京大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

所有仪器

行业专用仪器

检测范围

仪器主要功能(Functions): (1)用离子束刻蚀、沉积(金属)纳米级线条和图形;

仪器参数

"电子束分辨率(Resolution):3 nm@1 KV,

仪器特色&服务特色

“基于电子显微术与探针显微术的原位生长-动态表征-性能测量的方法及其在材料研究中的应用”“973研究计划”;
“石墨烯二维电子气的量子输运性质研究”“973”计划;
“LI-InGaN/InGaN复合阱结构对大功率LED效率骤降的改善研究”“973”计划;2007获国家自然科学二等奖,“功能准一维半导体纳米结构与物理研究”(俞大鹏,冯孙齐,徐军,薛增权)每年培训具有独立上机操作仪器的学生约30人,
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求