光谱椭偏仪(SOPRASpectroscopicEllipsometer)
华中科技大学
法国sopra公司,GES-SE
湖北省
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检测范围

应用于半导体材料,薄膜、纳米材料及聚合物的拉曼光学性能测试

仪器参数

波长范围:210-2000nm
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