导通可靠性评价系统(EvaluationSystemoftheConductionReliability)
华中科技大学
日本楠本化成株式会社,MLR22/NT531A
湖北省
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检测范围

该系统通过在热冲击环境下,对样品导通电阻的连续测定。可用于评价BGA、CSP焊锡球的接合可靠性、接插件、开关的可靠性、车载用部件的导通可靠性、测试二极管等有极性部件的电压或电阻、与温度循环试验器或热冲击试验器组合,评价无铅焊料的可靠性等。

仪器参数

1、热冲击试验箱NT531A;(1)高温侧曝露温度范围+60℃~+200℃;预热温度范围+60℃~+225℃;(2)低温侧曝露温度范围0℃~-65℃;预冷温度范围0℃~-75℃;(3)设定温度分辨率1℃;2、导通测试系统MLR22;(1)每个控制板拥有32个测试通道;最多可选配8个控制板,合计256个测试通道;;(2)电阻值测试范围:交流测试方式0.1μΩ~2kΩ;直流测试方式1mΩ~200kΩ;(3)电阻值测试精度:;交流测试方式:200mΩ~2KΩ:±0.4%20kΩ:±0.6%)
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