透射式电子显微镜(TransmissionElectronMicroscopeJEM 2100)
华中科技大学
日本电子株式会社,JEM-2100
湖北省
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检测范围

JEM-2100透射电镜应用领域广泛,适用于材料科学、纳米技术、物理、生物、化学、光电子等领域。可以从纳米尺度上实现金属、陶瓷、半导体、生物、矿物等材料的显微组织形貌、晶体缺陷及尺寸大小、选区电子衍射、高分辨晶格像分析,并结合EDS能谱仪实现微区成分定性/半定量分析

仪器参数

1.电子枪:LaB6(六硼化镧);2.点分辨率:0.23nm线分辨率:0.14nm;3.加速电压:200KV;4.束斑尺寸:1.0-25nm;5.放大倍数:20-1500000;6.倾斜角:X轴#177;30#176;;Y轴±30#176;;
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