场发射扫描电子显微镜
华中科技大学
日本电子株式会社,JSM-7600F
湖北省
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检测范围

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究.可进行材料表面的高分辨图像观察;能谱仪可用于谱定性、定量、线扫描、面分布;EBSD7个晶系鉴别,取向和取向差分析,晶界特征分布,织构分析。

仪器参数

放大倍数范围:25-100万,二次电子分辨率:1.0nm(加速电压=15KV,放大倍数=30万倍);加速电压范围:0.1KV-30KV
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