检测范围
微纳操纵及原位光电分析测试系统不仅可以实现对纳米材料或器件的原位发光的检测和电学物性的测试、纳米尺度的精确操作和控制、以及特定纳米光电子器件的构筑，还可以实现实时原位研究微纳材料和器件光电转换过程的动态信息。
仪器参数
高真空模式：30kV时优于1.0nm（SE），1kV时优于3.0nm（SE），30kV时优于2.5nm（BSE）；；低真空模式：30kV时优于1.4nm（SE），3kV时优于3.0nm（SE），30kV时优于2.5nm（BSE）；；环境真空模式：30kV时优于1.4nm（SE）；；2.电子枪：热场肖特基电子枪，加速电压0.2kV－30KV，最大束流200nA；；3.放大倍数：6倍－100万倍；
仪器特色&服务特色
Q. Zhang, H. Q. Li, L. Gan, Y. Ma, D. Golberg*, T. Y. Zhai*,?In situ Fabrication and Investigation of Nanostructures and Nanodevices?with a Microscope,?Chem. Soc. Rev.?2016, 45, 2694-2713.
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