检测范围
场发射扫面电子显微镜主要用于微米、纳米尺度材料的超高分辨微观形貌观察和微区分析，广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检测。
仪器参数
（1）高真空模式分辨率：1nm(15kV);1.6nm（1kV）；；（2）低真空模式分辨率：1.5nm（10kV，Helix探测器），1.8nm（3kV，Helix探测器）；（3）标样放大倍数：40倍-40万倍；；（4）加速电压50V-30kV，连续可调；；（5）倾斜角度：-10°-70°；（6）样品台移动范围：X=Y=110mm；；（7）Inca能谱能量分辨率126eV，成分范围B-U，束斑影响区1μm左右。
仪器特色&服务特色
（1）超交联聚合物的合成及应用（2）高效、高稳定钙钛矿太阳能电池关键材料与器件（3）基于全丝网技术及介孔对电极单机板全固态介观太阳能电池基础研究
分享
