检测范围
微观形貌分析：TEM明场像和扫描透射STEM像成分分析：STEM-EDX（点、线和面元素分析）；能量过滤元素面分布（EFTEM）；STEM-EELS（点、线和面元素分布）结构分析：衍射和HR-TEM像
仪器参数
信息分辨率极限：0.14nm；点分辨率：0.205nm线分辨率：0.102nm；高分辨STEM分辨率：0.16nm；样品最大倾角：(α)+/-40o；(β,双倾样品杆)+/-30o；EDS能量分辨率：＜136ev；GIF系统能量分辨率：≤0.7ev(Extr≤3KV)；≤1.0ev(Extr=4KV)
仪器特色&服务特色
利用该仪器的重要表征结果发表的顶级期刊有：Adv.Mater.2016,28,8296-8301.Adv.Mater.2017,29,1603550.
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