顺序式X——射线荧光光谱仪
中国科学院地质与地球物理研究所
岛津,XRF-1500
北京市
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检测范围

本仪器为常规成分分析设备,用于岩石圈演化和矿产资源研究及其它地学研究中岩石、矿物、土壤等样品的主量及次量成分分析,分析元素范围: 主元素(氧化物形式) 。
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