场发射高分辨透射电镜 Tecnai G2 F30(Transmission electron microscope)
哈尔滨工业大学
FEI,Tecnai G2 F30
黑龙江省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

TEM形貌观察及衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、EELS分析、原位加热和拉伸分析

仪器参数

300KV分辨率:点分辨率: 0.20 nm、线分辨率: ≤0.102nm、信息分辨率: ≤0.14nm,加速电压50kV~300kV
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