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场发射扫描电镜系统
哈尔滨工业大学
FEI公司，Quanta 250 FEG
黑龙江省
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检测范围

场发射扫描电镜系统适用于纳米材料精细形貌的观察，可提供高质量高分辨二次电子图像。

仪器参数

1.1高真空模式：≤1.0nm@30kV(SE)；≤2.5nm@30kV(BSE)；≤3.0nm@1kV(SE)
1.2低真空模式：≤1.4nm@30kV(SE)；≤2.5nm@30kV(BSE)；≤3.0nm@3kV(SE)
1.3环境真空模式(ESEM)：≤1.4nm@30kV(SE)
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