透射电子显微镜
哈尔滨工业大学
日本电子,JEM1400
黑龙江省
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检测范围

主要用于生物样品、高分子材料的高反差形貌观察和微区的晶体结构

仪器参数

点分辨率:0.38nm ,线分辨率:0.2nm
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