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红外光谱型椭偏仪
哈尔滨工业大学
J.A.WOOLLAM，IR-VASE
黑龙江省
我们目前尚未与哈尔滨工业大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

应用于固体块材、薄膜及液体光学红外波段光学常数测量，薄膜厚度测量，椭偏参数测量。

仪器参数

1. 测量光谱范围：1.7~30微米；
2. 变角度测量范围：30~90度；
3. 可变温测量；
4. 光谱精度
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