场发射环境扫描电镜(scanning electron microscope)
哈尔滨工业大学
FEI,Quanta 200FEG
黑龙江省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

SEM形貌观察、EDS能谱 分析、EBSD晶体学结构分析

仪器参数

加速电压:200V~30kV;二次
电子像分辨率:1.2nm(30kV);放大倍数50-300000
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