全自动夹杂物分析系统(Automatic inclusions analysis system)
北京科技大学
德国蔡司,EVO18
北京市
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检测范围

光源:钨灯丝。加速电压:200V-30kV,10V步进连续可调*。放大倍数:5×~1000,000×,连续可调*。分辨率:高真空二次电子像3.0nm(30kV)*;低真空背散射电子像4.0nm(30kV)。探针电流范围:0.5 pA~5 μA,连续可调*。聚焦工作距离:2mm~145mm*。电子束气体路径长度:<2mm

仪器参数

光源:钨灯丝。加速电压:200V-30kV,10V步进连续可调*。放大倍数:5×~1000,000×,连续可调*。分辨率:高真空二次电子像3.0nm(30kV)*;低真空背散射电子像4.0nm(30kV)。探针电流范围:0.5 pA~5 μA,连续可调*。聚焦工作距离:2mm~145mm*。电子束气体路径长度:<2mm。样品室内部尺寸:φ365mm×275mm。最大允许样品重量:不小于5kg。夹杂物分析测量范围:30nm~5mm。夹杂物分析方法:采用AFA技术,全自动实时动态分析。
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