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X射线二维探测器衍射系统(X - ray two - dimensional detector diffraction system)
北京科技大学
德国布鲁克AXS有限公司，ONE VANTEC 500
北京市
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检测范围

1、物相定性分析；2、物相定量分析；3、结晶度分析；4、晶粒尺寸分析；5、晶体结构分析

仪器参数

有效接收面积：14cm；
能量范围：3至15keV；
能量分辨率：20% for Cu K-alpha；
工作温度：15至30摄氏度；
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