场发射透射电子显微镜(Field emission transmission electron microscopy)
北京科技大学
JEOL,JEM-2200FS
北京市
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检测范围

EELS,EFTEM

仪器参数

点分辨率:≤0.23nm    
线分辨率:≤0.10nm
能量分辨率:≤0.80eV
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