薄膜分析系统(Film analysis system)
盐城工学院
英国Aqulia公司,NKD-7000W
江苏省
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检测范围

应用光的干涉原理及高级分析软件薄膜性能及参数进行测量。主要测量多层薄膜厚度、折射率、吸收系统等参数;

仪器参数

光谱范围350-1000nm光谱分辨率2nm样品尺寸:10?10mm层数:可测量5层测量薄膜厚度:5nm-10um精度:<3%
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