原子力显微镜(Atomic force microscope)
苏州大学
美国Bruker公司/Bruker Nano Inc,增强型
江苏省
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检测范围

ContactAFM(接触模式)、TappingmodeAFM(轻敲模式)、Phaseimaging(相位成像)附件:无

仪器参数

z轴分辨率1nm,x、y扫描范围80um×80um
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