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扫描探针显微镜(Atomic Force Microscopy)
苏州大学
Veeco Metrology 公司，Multimode V
江苏省
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检测范围

是一种新型的表面结构分析仪器。能够测试各种金属材料、半导体材料、光电晶体材料、生物材料、植物材料、高分子材料、复合材料、磁性材料、铁电材料、微/纳米材料等的各种表面物理和化学特性，如表面形貌、摩擦力、粘强力、表面电位、静电力、压电相应等物理参量。

仪器参数

扫描范围:125μmx125μmx5μm10μmx10μmx2.5μm噪声水平:≤0.3分辨率:原子级分辨率光学辅助观察系统:450倍放大，分辨率1.6μm
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