高分辨透射电镜(High Resolution Transmission Electron Microscope)
苏州大学
FEI 公司,Tecnai G2 F20
江苏省
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分析仪器

检测范围

该设备用于测量和研究材料的晶体结构及超高分辨率图像的观察,及得到纳米尺度的结构信息。

仪器参数

点分辨率:0.19nm线分辨率:0.10nm放大倍数:50x-1500kx样品倾斜角度:±25°相机长度:80-2000mm带CCD,TV相机
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