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场发射透射电子显微镜(Field Emission Transmission Electron Microscopy)
苏州大学
FEI 香港有限公司，FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP
江苏省
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检测范围

用于材料显微组织形貌，结构观察与分析，微区点，线扫和面扫描成份分析及三维重构，可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。

仪器参数

加速电压：200KV放大倍数：25-1030,000倍点分辨率：0.24nm线分辨率：0.102nm信息分辨率：0.14nm样品倾斜角度>±30°电子枪：肖特基热场发射电子枪球差系数《1.2mm
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