检测范围
X射线衍射系统的工作原理是将平行或者会聚的X射线投射到样品上,透过探测被样品衍射(反射)、透射、或者散射的X射线以获得样品的物相、结晶度、晶粒尺寸、结晶取向、应力、织构及多层膜界面的生长质量、周期等信息。因此,XRD是材料研究必备的一种检测技术。
仪器参数
X射线发生器最大输出功率3kW,铜靶,陶瓷X光管,采用旋转光管技术,无需拆卸光管即可实现线焦斑和点焦斑的切换。测角仪采用光学编码与步进马达双重定位,全自动控制,硬件自动识别、自动纠错,样品全谱范围内所有峰的角度偏差小于0.01度。配备阵列探测器:子探测器数目大于15×190个,采用能量色散方式提高探测器的能量分辨率,在不使用滤波片和石墨单色器时,探测器的能量分辨率优于700eV,能够完全分辨kα,kβ射线。系统可以无需手动辅助,实现平行光路和聚焦光路的自动切换(含狭缝),所有光学附件均采用模块化设计(无工