薄膜杨氏模量的声表面波测试系统(Is improving)
清华大学
Fraunhsfer,LA wave
北京市
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检测范围

声表面波测试系统,可以测试薄膜材料的杨氏模量、密度、厚度、泊松比等性质,对缺陷敏感

仪器参数

测试材料的各向同性薄膜的杨氏模量、厚度、密度、泊松比等性质

仪器特色&服务特色

北京汇德信科技有限公司
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