表面缺陷分析仪(Is improving)
清华大学
TESCAN,VEGA 3 XMU
北京市
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检测范围

1、配备BSE探头可以观察不同组分的样品表面形貌成分相图。2、配备能谱仪可以对样品表面缺陷进行成分分析。

仪器参数

1、放大倍数:4倍-100万倍;2、最低分辨率:1nm;3、加速电压:200V-30KV;4、样品室直径:300mm宽,420mm深。

仪器特色&服务特色

服务用户包括清华大学深圳研究院、哈尔滨工业大学深圳研究生院、北京大学深圳研究院、深圳光峰光电、深圳光启高等理工研究院、深圳市力合材料有限公司等。典型服务成果:与深圳市力合材料有限公司合作完成十一五、十二五国家科技重大专项,发表专利34篇。
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