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场发射透射电子显微镜(Is improving)
清华大学
日本电子，JEM-2100F
北京市
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在成像功能基础上，结合电子衍射与能谱信息，可以得到相的形貌-结构-成分在纳米尺度一一对应的信息。

仪器参数

点分辨率：0.23nm晶格分辨率：0.10nmSTEM分辨率：0.20nm倾斜角：X±35°,Y±30°能谱元素分析范围：Be（4）-U（92）能量分辨率：优于127eV?

仪器特色&服务特色

清华大学材料学院，机械学院，环境学院，中国科学院生态环境研究中心，北京林业大学，中国科学院化学研究所等。
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