我的订单 会员中心 常见问题 意见反馈 服务商入口

提交需求
首页 > 所有仪器> 电子光学 > 冷场场发射扫描电子显微镜
联系平台客服
分享
冷场场发射扫描电子显微镜(Field Emission scanning electron microscope)
中国科学技术大学
日本电子株式会社（JEOL），JSM 6700F
安徽省
我们目前尚未与中国科学技术大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

所有仪器

行业专用仪器

分析仪器

检测范围

本仪器具有高的分辨率，放大倍率几十倍到几十万倍连续可调，可观察物体二次电子 像、背散射电子像，同时可进行X射线能谱分析： 1. 固体物质表面形貌观察可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断

仪器参数

分辨率 1.0nm @ 15kV,能谱分辨率133eV(Mn Ka),分析元素B（5）-- U（92）
猜您需要 查看更多>>
如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求