电子束光刻系统(Electron Beam Lithography)
中国科学技术大学
JEOL Ltd.,JBX-6300FS
安徽省
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检测范围

利用高能量汇聚电子束斑扫描光刻胶,从而获得最小尺度10nm的纳米尺度的结构图形。

仪器参数

套刻精度:在高精度模式下 小于±20nm;拼接精度:在高精度模式下 小于±20nm;束流:30pA 至 20nA;束斑: 在高精度模式下 小于 3nm;?扫描时钟频率:50 MHZ;扫描区域 :150mm X 150mm;扫描最小步长: 高精度模式下 0.125nm,高速模式下 1nm ;写场尺寸:高精度模式下 62.5μm X 62.5μm,高速模式下 500um X 500um。
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