X射线荧光光谱仪(XRF)
北京工业大学
帕纳科,Magix(PW2403)
北京市
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检测范围

适用于各种样品中元素的定性定量测定,分析元素范围为C、O到U之间的元素; 并可进行镀层厚度及组成分析。是一种快速、准确的无损检测方法。

仪器参数

分析浓度范围:ppm-100%;仪器稳定性: RMS≤0.05%。
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