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可三维重构X光显微成像测量系统(X-ray MicroCT)
北京工业大学
nanovoxel-2100，nanovoxel-2100
北京市
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检测范围

可三维重构X光显微成像测量系统，使用X射线作为探测手段，对样品进行穿透成像测量，利用不同角度的透视投影成像，结合计算机三维数字成像构造技术，构建出待测物体的三维立体透射成像模型，以图像的形式清晰准确直观的展现被检测物体内部结构特征、材料的密度、有无缺陷及缺

仪器参数

分辨率
1.1测试分辨率≤0.5μm
1.2 工作距离(X射线源距样品旋转轴)50mm时的空间分辨率≤1.0μm
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