扫描电镜(Scanning electron microscope)
北京工业大学
日立,S-3400N
北京市
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检测范围

观察物体表面微观结构,并配有能谱仪,可对材料成分进行分析

仪器参数

SE分辨率3nm(30KV),放大倍率X5-X300000
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