我的订单 会员中心 常见问题 意见反馈 服务商入口

提交需求
首页 > 所有仪器> 环境与农业分析 > 双束场发射聚焦离子束及扫描电子显微镜
联系平台客服
分享
双束场发射聚焦离子束及扫描电子显微镜(FEI Dual Beam System)
北京工业大学
FEI，Helios Nanolab 600i
北京市
我们目前尚未与北京工业大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

制备透射电镜样品

仪器参数

电子束分辨率：0.9nm，离子束分辨率：4nm

仪器特色&服务特色

制备透射电镜样品
更多仪器 查看更多>>
如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求