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扫描式电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
北京工业大学
FEI 公司，荷兰FEI Quanta 650
北京市
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检测范围

可以对不同的样品(从传统的金属材料，断口和抛光断面，到不导电的软物质)进行微观的表面形貌观测

仪器参数

分辨率：高真空30KV下1.0nm(SE)，1KV下3.0nm(SE)；低真空30KV下1.4nm(SE)，30KV下2.5nm(BSE),3KV下3.0nm(SE)；环境真空30KV下1.4nm(SE)
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