检测范围
扫描后可得到信噪比极高的光学横断面，分辨率比普通光学显微镜有很大提高。可无损伤地对样品作不同深度的层扫描和荧光强度测量，不同焦平面的光学切片经三维重建后能得到样品的三维立体结构。
仪器参数
1,显微镜:倒置显微镜Ti-E 拥有10X,20x,40X干镜以及60X,100X油镜,电动载物台,2,激光装置:波长和电源:405LD:最大38mW;Multi-Ar(457/488/514;最大65mW;543HeNe 最大 25mW;640LD;最大10mW.3,共聚焦扫描系统 扫描头：戌有非共振（4096*4096像素）和共振扫描器（512*512像素）。荧光检测器：波长：400-750nm,检测器：4PMT。透射检测嚣:波长400-750nm,检测器：PMT。
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