冷场发射扫描电子显微镜(SEM)
北京市理化分析测试中心
日立,S-4800
北京市
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检测范围

放大倍数随WD与HV变化,对物体的观察放大功能.

仪器参数

二次电子像分辨率1.0nm,,1.4nm,2.0nm
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