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透射电子显微镜(TEM)
北京市理化分析测试中心
TecnaiTM，G2F30
北京市
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检测范围

纳米级材料形貌观察，高分辨晶格像、能谱、高角环形暗场像及面扫，电子衍射花样等

仪器参数

分辨率：0.1nm (晶格像)
加速电压：300kV
放大倍率：
放大：x2000~x10000,000
样品台移动：X/Y：±1mm Z：±0.3mm
倾斜角度：±20o(±60o可选)
功能：图像导航功能和样品位置记忆功能
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