场发射透射电子显微镜(FETEM)
中国科学技术大学
日本电子株式会社,JEM-2100F
安徽省
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检测范围

TEM成像观察、超高分辨图像观察、选区电子衍射,NBD衍射,CBD衍射。 STEM明场成像观察、纳米尺度的结构分析、化学成分分析。

仪器参数

点分辨率:0.19nm;
线分辨率:0.10nm;
加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV;
倾斜角:X=±25°;  Y=±25°;
STEM分辨率:0.20nm;
束流:0.5nA(束斑尺寸为1nm时);
放大倍数:LOW MAG 模式:×50~6,000 ,MAG 模式:2,000~1,500,000,SA MAG 模式:8,000~800,000

仪器特色&服务特色

光电材料的应用、催化材料的应用。
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