检测范围
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固
体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和微悬臂之间的极微弱的原子间相互作
用力来研究物质的表面结构及性质。微悬臂针尖与样品表面原子间的相互作用力使微悬臂发生
变形，通
仪器参数
1.XY 扫描范围 90μm，Z范围14μm，样品尺寸≤150mm；
2.Nanoscope V控制器，具备8通道数据采集能力；
3.轻敲、接触和智能扫描三种形貌成像模式，具有摩擦力和相位图；
仪器特色&服务特色
适用于观察原子级样品如DNA分子、石墨烯等，在纳米材料、分子生物学、仿生学等领域有广泛应用；
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