散射式近场光学显微镜(S-SNOM)
中国科学技术大学
Neaspec GmbH Co.,NeaSNOM 2-nd
安徽省
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检测范围

S-SNOM是基于AFM系统的超高分辨率光学显微成像系统,通过AFM针尖散射并收集样品的近场光 学信号,通过探测束缚在物体表面的非辐射场,获得丰富的亚微米光学信号。

仪器参数

分辨率:15nm;照明模式:反射式、透射式;光源:可见光(633nm波长激光)、中红外(9.3-10.8um可调谐波长激光);扫描范围:X/Y:100um,精确度:0.4nm;Z:3um,精确度0.2nm;样品尺寸要求:长宽

仪器特色&服务特色

由于近场光学显微镜能克服传统光学显微镜低分辨率以及扫描电子显微镜和扫描隧道显微镜对生物样品产生损伤等缺点,因此得到了越来越广泛的应用,特别是在生物医学以及纳米材料和微电子学等领域,成为探索生物大分子活动奥秘的光学手段.
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