我的订单 会员中心 常见问题 意见反馈 服务商入口

提交需求
首页 > 所有仪器> 电子光学 > 场发射扫描电子显微镜
联系平台客服
分享
场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
深圳先进技术研究院
FEI，Nova NanoSEM 450
广东省
我们目前尚未与深圳先进技术研究院提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

所有仪器

物理测试

分析仪器

检测范围

观察样品表面微观形貌，进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。

仪器参数

高真空分辨率：1nm ( 15KV)，1.6 nm (1KV)
低真空分辨率：1.5nm（10kV，Helix探测器)，1.8nm（3kVHelix探测器)
放大倍数：40倍～40万倍
加速电压：加速电压 50V - 30kV，连续可调
倾斜角度：-10°～70°
样品台移动范围：X=Y=110mm
猜您需要 查看更多>>
如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求