冷场发射扫描电子显微镜
浙江大学
HITACHI,SU8010 冷场发射
浙江省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

观察各种固态样品表面形貌的二次电子像、背反射电子像,配备高性能X射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点、线、面元素定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。

仪器参数

分辨率:1.0nm/15kV,1.3nm/1kV
加速电压:0.1~30kV,0.1 kV/步
放大倍数:12~1,000,000倍,连续可调
电子枪:冷场发射或热场发射型
?        检测器:高低位检测器可选择接收二次电子像或背散射电子像
样品台:5轴马达驱动
样品室:宽度或内部直径300mm,高度270mm
真空系统:无油磁悬浮涡轮分子泵、离子泵
附件:
X射线能谱仪:圆形对称SDD探头,MnK分辨率129eV;元素分析范围B~U
自动喷金制样系统
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