可变温探针台
南方科技大学
Lake Shore Cryotronics LTD,TTPX
广东省
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检测范围

1.可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量 2.主要是二极管、晶体管、CMOS等半导体器件进行电学特性测试

仪器参数

1. 变温范围宽3.2K到475K(液氮78K-475K)
2. 高温选件温度范围从25K到675K
3. 控温稳定性100mK
4. 测量DC到67GHz
5. 各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量
6. 最大测试样品尺寸1.5in
7. 可使用6个探针臂
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