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场发射扫描电子显微镜
浙江中医药大学
日本HITACHI，SU8010
浙江省
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检测范围

SEM可观察样品表面、材料断口的微细形态结构；能谱仪可进行成分的常规微区分析：元素定量、定性成分分析，实时微区成分分析，快速多元素面扫描和线扫描分布测量。

仪器参数

加速电压为15kV时，分辨率1.0nm，加速电压为1kV时，分辨率1.3nm。配备EDAX 能谱仪。
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