检测范围
可获得近平行的入射X射线,可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析;单晶及单晶外延膜分析;摇摆曲线的测定及φ扫描;三轴晶衍射测量(即倒易空间等强度分布图测量,Mapping);薄膜的物相
仪器参数
Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA;测角仪工作方式:θ/2θ方式;扫描范围:- 3°~150°; 5轴尤拉环样品台的测试范围: K轴:-10°到91°,F轴:±360°,X轴:-50 mm到+50 mm,Y轴:-50 mm到 +50 mm,Z轴:-1.5 m
仪器特色&服务特色
服务多家企业