检测范围
可获得近平行的入射X射线，可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析；单晶及单晶外延膜分析；摇摆曲线的测定及φ扫描；三轴晶衍射测量（即倒易空间等强度分布图测量，Mapping）；薄膜的物相
仪器参数
Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA；测角仪工作方式：θ/2θ方式；扫描范围：- 3°～150°； 5轴尤拉环样品台的测试范围： K轴：-10°到91°，F轴：±360°，X轴：-50 mm到+50 mm，Y轴：-50 mm到 +50 mm，Z轴：-1.5 m
仪器特色&服务特色
服务多家企业
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